Equipamentos & Recursos

 Equipamentos de Análise:

TEM 120 kV

JEM-1400 TEM (TEM 120 kV)

Destinado a análises de sistemas orgânicos/biológicos e poliméricos

• Voltagem de aceleração máxima: 120 kV
• Resolução para imagem de ponto: 0,38 nm
• Resolução para imagem de linha: 0,20 nm
• Magnificação: 800x a 1.200.000x
• Estágio goniométrico com módulo de inclinação de ±70º
• Difração de elétrons

Responsáveis: Deise Rebelo Consoni, Eduardo de Almeida Isoppo, Luciana Pereira da Silva, Luciano de Oliveira, Mariana Rangel Pilotto

TEM 200 kV

JEM-2100 TEM (TEM 200kV)

Destinado a análises de materiais (semicondutores, metais e cerâmicos)

• Voltagem de aceleração máxima: 200 kV
• Magnificação: 2.000x a 1.200.000x
• Resolução de ponto de 0,23 nm; resolução de linha de 0,14 nm
• Estágio goniométrico com módulo de inclinação duplo de ±30º
• Análise de raios-x (EDS): sistema de espectrometria por dispersão de energia
• Difração de elétrons SAD e NBD
• Difração de feixe convergente (CBD)

Responsáveis: Deise Rebelo Consoni, Eduardo de Almeida Isoppo, Luciana Pereira da Silva, Luciano de Oliveira, Mariana Rangel Pilotto

MEV

JEOL JSM-6390LV Scanning Electron Microscope (MEV)

• Microscópio de varredura convencional com filamento de tungstênio
• Voltagem de aceleração: 0.5 a 30kV
• Magnificação: 25x a 300.000x
• Resolução a alta tensão: 3nm; baixa tensão: 4nm.
• Modo baixo vácuo incluído– Permite observar amostras com excesso de água
• Acomoda amostras de até 15 cm de diâmetro
• Modo filmagem (arquivos .avi)
• Análise de raios-x (EDS): sistema de espectrometria por dispersão de energia

Responsáveis: Deise Rebelo Consoni, Eduardo de Almeida Isoppo, Luciana Pereira da Silva, Luciano de Oliveira, Mariana Rangel Pilotto

FEG

JEOL JSM-6701F Scanning Electron Microscope (FEG)

• Catodo frio: Emissão de campo (FESEM)
• Ultra alto vácuo
• Alta resolução: 1nm(30kV) – 2.2nm (1.2kV)
• Tensão de aceleração: 0.5 a 30kV
• Magnificação: 25x a 650.000x

Responsáveis: Deise Rebelo Consoni, Eduardo de Almeida Isoppo, Luciana Pereira da Silva, Luciano de Oliveira, Mariana Rangel Pilotto

Recursos para Preparação de Amostras:

• 2 ultramicrótomos para tecidos biológicos – modelos Power Tone XL / RMC e EM UC 7 / LEICA

• Navalha de diamante para ultramicrotomia – DIATOME

• Knife makers – modelos GKM / RMC e EM KM P3 / LEICA

• Estereoscópio – modelo S6E / LEICA

• 2 microscópio de luz – modelo CME / LEICA

• Ponto crítico – modelo EM CPD 030 / LEICA

• Agitador de soluções – modelo AP56 / PHOENIX

• pHmetro de bancada – modelo mPA-210 / SERVYLAB

• Serra de diamante – modelo LECO VC-50 / LECO

• Politriz de alta e baixa velocidade – modelo ARAPOL E / AROTEC

• Dimple Grinder – modelo 656 / GATAN

• Disc grinder

• Polimento iônico (PIPS) – MODELO 691 / GATAN

• Cortador ultrassônico – modelo 601 / GATAN

• Banho ultrassônico com aquecimento – modelo ULTRA CLEANER 1400A / UNIQUE

• Lupa estereoscópica MEDILUX

• Centrífuga Centribio para tubos falcon de 15 mL / microtubos

• Recobridora de ouro (sputtering) – modelo EM SCD 500 / LEICA

• Chapa quente com controle de temperatura KASVI

• Estufas – modelos S 150 ST / BIOPAR e S 36 ST / BIOPAR

• Dessecador Dry Box – modelo LUCA 175/60 / LUCA

• Geladeira Eletrolux super freezer DC 33